蔡司MultiSEM全球速度非凡的掃描電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時(shí)代$n借助 蔡司掃描電鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨(dú)立地自動(dòng)完成高襯度圖像采集。

蔡司EVO掃描電鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)，材料科學(xué)，或例行的工業(yè)質(zhì)量保證。

JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡 整體解決方案中集成了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的優(yōu)秀診斷與預(yù)測工具。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，還是科研或工業(yè)實(shí)驗(yàn)室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺(tái)設(shè)計(jì)理念，您可基于自身需求隨時(shí)升級(jí)儀器系統(tǒng)（例如使用LaserFIB進(jìn)行大規(guī)模材料加工）。